一種X軸手動位移平臺產品的二次研究及結論分析

添加時間：2020-6-9 9:26:50 作者：浙江金科機械傳動有限公司

金科機械公司研究了一種以計量光柵作為計量標準器的二維X軸手動位移平臺,以實現表面輪廓測量中的x-y方向的精確定位.重點介紹了光柵信號處理的硬件及軟件細分技術,及X軸手動位移臺閉環(huán)控制系統(tǒng)的流程,分析了影響X軸手動位移臺定位精度和速度的因素.系統(tǒng)實現了高速度、高精度和大行程測量的要求.
表面三維形貌檢測是獲取零件表面形貌特征的一種重要手段,也是記錄、比較和復制物體表面形貌特征的基礎,它在機器視覺、自動加工、工業(yè)檢測、產品質量控制、生物和醫(yī)學等領域具有重要意義和廣闊的應用前景.對于粗糙度等參數的測量,只要求垂直方向的精度,而對于表面輪廓的三維測量則不同,既要求垂直方向的精確測量,還要求水平x-y方向的精確定位,這樣才能真實地測量出表面的基本輪廓.為此,研究運動平面度與精度高的二維X軸手動位移平臺是表面形貌測量與評定的基礎.
目前,開環(huán)和半閉環(huán)的工作臺依據其較高的加工精度和良好的性能價格比獲得了大量應用,但由于存在開環(huán)環(huán)節(jié),使得手動位移平臺定位精度的進一步提高受到了限制.對于開環(huán)和半閉環(huán)的工作臺系統(tǒng),其定位精度主要靠提高進給絲杠及導軌等構件的精度.但是,絲杠總是存在制造誤差,而且會隨著使用發(fā)生磨損,因此,就需要采用全閉環(huán)控制來解決.為此本文研制了一種新型的精密二維X軸手動位移平臺,利用計量光柵為計量標準器,對X軸手動位移平臺兩個方向的位移進行實時采集測量,既不受其他中間環(huán)節(jié)的影響,還滿足了實際測量中大行程與高精度的要求.